Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskop bei variabler Temperatur

as Gerät dient der Untersuchung von nanomateralien, insbesondere von zweidimensionaler Materialien, mit Methoden der Oberflächenforschung innerhalb des Forschungsschwerpunkts "Nanoscience and Nanotechnology" der Universität Siegen。Es ermöglicht das epitaktische Wachstum von fortgeschrittenen 2D-Materialien unter hochcontrol - lierten Bedingungen（超真空，晶体衬底）sowie die modimodier（材料吸附与插层），nanostructturierung oder die gezielte Einbringung von defkten。利用温度可变光栅隧道显微技术（STM）原位成形模具的特性分析。另外Materialien steen nedem prototypischen Graphen vor allem die vielfältigen Dichalkogenide der Übergangsmetalle (MoS2 u. ä.) in Vordergrund，每个weitere Materialklassen wie Phosphoren-Analoga sinmit der flexibel ausgelegten Anlage zugänglich。荷兰wachstumsstudy werden die zugrundeliegenden atomaren Prozesse mit ihren相关参数许可和mit diesem Wissen die Präparationen verbessert。Die strukturelle Charakterisierung liefert dann，互补的durch Die Vermessung der elektronischen and optischen Eigenschaften， Die Grundlage f<s:1> r ein Verständnis der neutigen Materialien, auch mitblick auf mögliche Anwendungen。

Das Gerät dient der Untersuchung von Nanomaterialien, insbesondere von zweidimensionaler Materialien, mit Methoden der Oberflächenforschung innerhalb des Forschungsschwerpunkts "Nanoscience and Nanotechnology" der Universität Siegen. Es ermöglicht das epitaktische Wachstum von fortgeschrittenen 2D-Materialien unter hochkontrollierten Bedingungen (Ultrahochvakuum, einkristalline Substrate) sowie die Modifikation dieser Materialien durch Adsorption und Interkalation, Nanostrukturierung oder die gezielte Einbringung von Defekten. Die Charakterisierung erfolgt in situ vor allem mit temperaturvariabler Rastertunnelmikroskopie (STM). Als Materialien stehen neben dem prototypischen Graphen vor allem die vielfältigen Dichalkogenide der Übergangsmetalle (MoS2 u. ä.) im Vordergrund, auch weitere Materialklassen wie Phosphoren-Analoga sind mit der flexibel ausgelegten Anlage zugänglich. Durch Wachstumsstudien werden die zugrundeliegenden atomaren Prozesse mit ihren relevanten Parametern ermittelt und mit diesem Wissen die Präparationen verbessert. Die strukturelle Charakterisierung liefert dann, komplementiert durch die Vermessung der elektronischen und optischen Eigenschaften, die Grundlage für ein Verständnis der neuartigen Materialien, auch mit Blick auf mögliche Anwendungen.