Analysis and fabrication of nanoscale contacts and interfaces by scanning probe microscopy technology
Analysis and fabrication of nanoscale contacts and interfaces by scanning probe microscopy technology
通过扫描探针显微镜技术分析和制造纳米级接触和界面
批准号：
24246014
负责人：
Tomitori Masahiko
金额：
$28.79万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
财政年份：
2012
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2012-04-01 至 2016-03-31
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チャージアンプを備えたnc-AFMによる表面電子状態解析
使用配备电荷放大器的 nc-AFM 进行表面电子态分析
使用配备电荷放大器的 nc-AFM 进行表面电子态分析
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[野上 真, 新井 豊子, 笹原 亮, 富取 正彦]
通讯作者：
富取 正彦
二酸化チタン表面へのリン酸カルシウム析出のXPSとAFMによる解析
使用 XPS 和 AFM 分析二氧化钛表面磷酸钙沉淀
使用 XPS 和 AFM 分析二氧化钛表面磷酸钙沉淀
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[笹原 亮, 村上 達也, Le Tran Uyen Tu, 附田 健太郎, 富取 正彦]
通讯作者：
富取 正彦
Sharpening probes towards nanoscale imaging using scanning probe microscopy
使用扫描探针显微镜将探针锐化至纳米级成像
使用扫描探针显微镜将探针锐化至纳米级成像
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[M. Ishida, Y. Kakinuma, T. Aoyama, H. Anzai, K. Sakurai, M. Tomitori]
通讯作者：
M. Tomitori
微量のNH3を反応させたSi(111)7×7表面の非接触原子間力顕微鏡／走査型トンネル顕微鏡による原子分解観察
使用非接触原子力显微镜/扫描隧道显微镜观察与微量NH3反应的Si(111)7×7表面的原子分辨率
使用非接触原子力显微镜/扫描隧道显微镜观察与微量NH3反应的Si(111)7×7表面的原子分辨率
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[金島圭佑, 石井順久, 金井輝人, 渡部俊太郎, 板谷治郎, 坂野友樹]
通讯作者：
坂野友樹
チャージアンプを組み込んだNC-AFMによる表面状態解析
使用内置电荷放大器的 NC-AFM 进行表面状况分析
使用内置电荷放大器的 NC-AFM 进行表面状况分析
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[N. Ishii, K. Kaneshima, K. Kitano, T. Kanai, S. Watanabe, and J. Itatani, 小林弘樹，大森豪，西野勝敏，田邊裕治，解晨，古賀良生, 野上真]
通讯作者：
野上真
共 74 条
Nanoscale mechanical analysis of nanocontacts using combined scanning probe microscopy capable of detection of energy dissipation
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批准号：18H03879
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
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资助金额：$28.2万
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财政年份：2018
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负责人：Tomitori Masahiko
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依托单位：
Measurements of the charge state of a molecule on a solid substrate on the basis of scanning probe microscopy
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批准号：26630330
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项目类别：Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
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资助金额：$2.5万
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财政年份：2014
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负责人：Tomitori Masahiko
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依托单位：
海外基金