Analysis of failure threats for complex systems in mode-stirring chambers and TEM-field generators.

Im Rahman dieses Projektes soll der Eifuúverschiedener EMV-Testumgebungen auf die störschwell en and auf das Fehlerverhalten von komplexen Technischen Technischen Untersusth den.在现代电子学和电子显微镜的研究中，这些数据的质量是定量的[1，2，3]。对信号调制的参数进行了测试，对信号调制参数进行了分析。我不会让你失望的，你会死得更好。在Der Zweiten阶段，解决了有效的数学化问题。在现代化的道路上，我们看到的是无模的信号。从数学模型和系统分析的角度出发，给出了一种新的分析方法。在这段时间里，他们都是机械师，他们的工作范围很广，也很难找到合适的工作。[1]Braun，ch，P.Guidi，H.U.Schmidt，A.Taenzer，H.G.Krauthäuser and J.Nitsch：Messung von Ausfall-Schwell wen en an现代Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Platinen MIT gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen und in Moden-Verwbelungs-Kammern。见：ElektroMagtische Verträglichkeit EMV 2000，Seiten 573-580，杜塞尔多夫，德国。[2]Jansson，L.and M.Bäck ström：设备的方向性及其对模式搅拌和消声室测试的影响。在：过程IEEE集成交响乐。On EMC，Seiten 17-22，西雅图，1999。[3]Krauthäuser，H.G.和J.Nitsch：模式搅拌室在时间域中的特征。见：电磁兼容性国际研讨会论文集，Seiten 389-392，马格德堡，1999。

Im Rahmen dieses Projektes soll der Einfluß verschiedener EMV-Testumgebungen auf die Störschwellen und auf das Fehlerverhalten von komplexen technischen Systemen untersucht werden. Voruntersuchungen haben gezeigt, dass aufgrund der Verschiedenartigkeit der Feldverhältnisse in Modenverwirbelungskammern einerseits und TEM-Feldgeneratoren andererseits sowohl mit quantitativen als auch mit qualitativen Abweichungen gerechnet werden muss [1,2,3]. Hierzu sollen umfassende Tests durchgeführt werden, bei denen insbesondere auch die Parameter der Signalmodulation über einen großen Bereich variiert werden sollen. Diese Untersuchungsphase hat den Zweck, die real auftretenden Effekte klar darzulegen und zu klassifizieren. In der zweiten Phase sollen die klassifizierten Effekte mathematisch beschrieben werden. Prinzipbedingt sind die Felder am Ort des Prüflings in Modenverwirbelungskammern auch dann amplitudenmoduliert, wenn ein unmoduliertes Signal am Eingang anliegt. Die Auswirkungen dieser ungewollten Amplitudenmodulation auf Prüflinge kann dann mittels der gefundenen mathematischen Modelle systematisch analysiert werden. In einer dritten Phase sollen die Fehlermechanismen, die sich in den verschiedenen Modellen widerspiegeln, durch möglichst einfache Schaltungen nachempfunden werden. Hierdurch können die Effekte leicht isoliert demonstriert und in verschiedenen Testumgebungen analysiert werden.[1] Braun, Ch., P. Guidi, H.U. Schmidt, A. Taenzer, H.G. Krauthäuser und J. Nitsch: Messung von Ausfall-Schwellwerten an modernen Hochgeschwindigkeits- Prozessor-Platinen mit gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen und in Moden-Verwirbelungs-Kammern. In: Elektromagnetische Verträglichkeit EMV 2000, Seiten 573-580, Düsseldorf, Germany, 2000. [2] Jansson, L. und M. Bäckström: Directivity of equipement and its effect on testing in mode-stirred and anechoic chamber. In: Proc. IEEE Int. Symp. on EMC, Seiten 17-22, Seattle, 1999. [3] Krauthäuser, H.G. und J. Nitsch: Characterization of mode-stirred chambers in the time domain. In: Proceedings of the International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Seiten 389-392, Magdeburg, 1999.