Origin elucidation of the problems in the interface electric charge transportation phenomenon using scanning nonlinear dielectric microscopy
Origin elucidation of the problems in the interface electric charge transportation phenomenon using scanning nonlinear dielectric microscopy
使用扫描非线性介电显微镜阐明界面电荷传输现象问题的根源
批准号：
16H06360
负责人：
Cho Yasuo
金额：
$124.55万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
财政年份：
2016
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2016-05-31 至 2021-03-31
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DOI：
10.1557/mrs.2018.98
发表时间：
2018-05
期刊：
MRS Bulletin
影响因子：
5
作者：
[Yasuo Cho;Seungbum Hong]
通讯作者：
Yasuo Cho;Seungbum Hong
Improvement of Signal-to-Noise Ratio in Carrier Distribution Imaging in Intermittent Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Based on Boxcar Integration
基于Boxcar积分的间歇接触扫描非线性介电显微镜中载流子分布成像信噪比的提高
基于Boxcar积分的间歇接触扫描非线性介电显微镜中载流子分布成像信噪比的提高
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
作者：
[S. Matsuyama, J. Yamada, S. Yasuda, Y. Kohmura, H. Okadam, Y. Sano, M. Yabashi, T. Ishikawa, and K. Yamauchi, Kohei Yamasue and Yasuo Cho]
通讯作者：
Kohei Yamasue and Yasuo Cho
Boxcar averaging based scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to carrier distribution imaging on 2D semiconductors
基于 Boxcar 平均的扫描非线性介电显微镜及其在二维半导体载流子分布成像中的应用
基于 Boxcar 平均的扫描非线性介电显微镜及其在二维半导体载流子分布成像中的应用
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Kohei Yamasue, Yasuo Cho]
通讯作者：
Yasuo Cho
High resolution characterizations of fine structure of electric devices and materials using scanning nonlinear dielectric microscopy
使用扫描非线性介电显微镜对电子器件和材料的精细结构进行高分辨率表征
使用扫描非线性介电显微镜对电子器件和材料的精细结构进行高分辨率表征
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Ogino Yukiko, Sakamoto Hirotaka, Watanabe Eiji, Ansai Satoshi, Naruse Kiyoshi, Iguchi Taisen, Yasuo Cho]
通讯作者：
Yasuo Cho
Measurement Method of Multi-layer Piezoelectric Polarity-inverted Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
多层压电极性反转结构的扫描非线性介电显微镜测量方法
多层压电极性反转结构的扫描非线性介电显微镜测量方法
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[H. Odagawa, Y. Tanaka, T. Yanagitani, and Y. Cho]
通讯作者：
and Y. Cho
共 131 条
Elucidation of atomic structure and dynamics of carrier trap sites
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批准号：21K18706
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项目类别：Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
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资助金额：$4.08万
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财政年份：2021
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负责人：Cho Yasuo
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依托单位：
High functionalization of nonlinear dielectric microscopy and its application to electronic devices
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批准号：23226008
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
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资助金额：$134.62万
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财政年份：2011
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负责人：Cho Yasuo
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依托单位：