Nanoscale properties of acive polymer/organic-based electronic components by atomic force acoustic microscopy

在Serienprodukte eingeführt的Mikro-und Nanoelektronik中，Polymere and ere Organche Materien是一种错误的选择。SIE Dienen Dabe将材料缠绕在Klassischen设计中，以便为新的设计提供基础。在德国设计、制造、性能模拟和模具集成中，我们不能在新的模具机构中实现中性材料的特征。从原子力声学显微镜(AFAM)到纳诺斯卡拉(Nanoskala)的Eigenschaften auf der Nanoskala。这是一种特殊的组织和聚合物的组织形式，它包括纳米级的纳米材料和纳米材料，以及多种形态的材料和材料。他说：“这是一件很重要的事情，我不能再做任何事情了。他说：“这是一件很重要的事情，因为这是一件很重要的事情。这是一项新的技术，也是一项新的技术，也是最重要的。这是一种新的技术和技术，是一种新的技术和技术，是一种新的技术。在Projektverlängerung Sollen Ins Besondere Studdien zu Zeit-and spannungsabhängien deformations von diesen mon diesen subsiesen dechgeführt um um diese besser zu verstehenum.在新的材料领域中，我们可以找到新的材料，也可以在新的领域中找到新的材料。新材料、新材料、在这里，我不再犯错误，也不再犯罪。

Polymere und andere organische Materialien werden derzeit in der Mikro- und Nanoelektronik in Serienprodukte eingeführt. Sie dienen dabei entweder als Ersatz herkömmlicher Materialien in klassischen Designs oder für die Entwicklung von Geräten auf Basis neuartiger Konzepte. In beiden Fällen müssen Design, Entwicklung, Performancesimulation und die Integration in die vorhandene Produktion mit Unbekannten im Hinblick auf die mechanischen Eigenschaften der neuartigen Materialien rechnen. Die Ergebnisse der ersten Phase des Projektes zeigen das enorme Potenzial der akustischen Rasterkraft-Mikroskopie (atomic force acoustic microscopy, AFAM) für die Charakterisierung von mechanischen Eigenschaften auf der Nanoskala. Die wesentlichen Erfolge dieses Projektes sind die erfolgreiche Charakterisierung von dünnen organischen und polymerbasierten Schichten mit Dicken von unterhalb eines Nanometers bis zu einigen zehn Nanometern mit sehr hoher lateraler Auflösung, das Aufzeigen eines Zusammenhangs zwischen der Morphologie von kristallinen dünnen Polymerschichten und ihren Halbleitereigenschaften sowie die erfolgreiche Bestimmung der Indentationsmodule von porösen organischen Silicatgläsern. Die von dem Projekt geforderten Verbesserungen, die am vorhandenen AFAM-System umgesetzt wurden, haben neue Möglichkeiten zur Materialcharakterisierung eröffnet. Die vorläufigen Ergebnisse haben unter anderem gezeigt, dass die Deformationsmechanismen der porösen organischen Silicatgläser von verschiedenen Faktoren abhängig sind. Hierbei sind insbesondere die aufgewendete Indentationskraft, die lokalen Spannungsverhältnisse und die Dynamik der Messung zu nennen. Die Porengröße und die typischen Entfernungen zwischen den Poren bewegen sich in der Größenordnung der lateralen Auflösung der AFAM-Methode, was Aussagen über das mechanische Verhalten von derartigen porösen Materialien auf einer noch nie dagewesenen Skala ermöglicht. In der Projektverlängerung sollen insbesondere Studien zu zeit- und spannungsabhängigen Deformationsmechanismen von diesen Materialien durchgeführt werden um diese besser zu verstehen. Die Kombination des nanoskaligen Messverfahrens mit den neuartigen Materialien, welche nur sehr schwierig mit klassischen Methoden charakterisiert werden können, etabliert möglicherweise ein neues Feld in der Materialcharakterisierung. Da die Zahl der neuartigen Materialien, die zurzeit in solch kritischen Umgebungen wie der Mikro- und Nanoelektronik, organischen Elektronik, Biowissenschaft sowie den erneuerbaren Energien erforscht und angewandt wird, ständig ansteigt, haben diese zunehmenden Einfluss auf das alltägliche Leben, angefangen von energieeffizienten Geräten bis hin zu intelligenten elektronischen Instrumenten und Systemen. Die hier aufgezeigte Forschungsrichtung ist daher sinnvoll und notwendig.