Pulse-clamp method applied to SIROF stimulation electrodes
Pulse-clamp method applied to SIROF stimulation electrodes
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脉冲钳位法应用于 SIROF 刺激电极
DOI：
10.1016/j.snb.2009.12.015
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发表时间：
--
影响因子：
8.4
通讯作者：
U. Schnakenberg
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
A. van Ooyen;C. Ulrich;U. Schnakenberg
小型化的电极、结构和设备对于在单神经元网络中的刺激期间实现高目标选择性是必要的，而显著的电荷转移是必不可少的。需要一种可靠的测试方法来评估用于神经刺激应用的电荷注入能力，所述神经刺激应用需要大量的电荷注入和小的电极尺寸。一个定制的脉冲钳位电路被用来表征溅射氧化铱膜（SIROF）微电极。在154mM磷酸盐缓冲盐水（PBS）溶液中，在直径小于100μm的平面微电极上进行400μs长脉冲的脉冲钳测量。单元模型被用来验证电路设计与SPICE模拟。不同尺寸的SIROF电极的脉冲箝位结果显示，即使在高电荷密度水平下，电荷损失也小于6%。
Miniaturized electrodes, structures, and devices are necessary to achieve high target selectivity during stimulation in single neuron networks, while significant charge transfer is essential. A reliable test method is required to evaluate charge injection capability for neural stimulation applications that demand both a large amount of charge injection and a small electrode size. A custom made pulse-clamp circuit was employed to characterize sputtered iridium oxide film (SIROF) microelectrodes. Pulse-clamp measurements with 400μs long pulses are performed in 154mM phosphate buffered saline (PBS) solution on planar microelectrodes smaller than 100μm in diameter. A cell model was used to verify the circuit design with SPICE simulations. The pulse-clamp results of SIROF electrodes of different sizes show charge losses of less than 6%, even at high charge density levels.
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影响因子：
7.4
作者：
Marzouk, SAM;Ufer, S;Cascio, WE
通讯作者：
Cascio, WE
神经刺激电极电化学分析的脉冲钳法
DOI：
--
发表时间：
1993
期刊：
影响因子：
--
作者：
M. Bonner;M. Daroux;T. Crish;J. Mortimer
通讯作者：
J. Mortimer
SIROF 微电极在生物混合电路中单神经元刺激的评估
DOI：
10.1109/sensor.2007.4300358
发表时间：
2007
期刊：
TRANSDUCERS 2007 - 2007 International Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems Conference
影响因子：
--
作者：
A. van Ooyen;B. Wessling;E. Slavcheva;U. Schnakenberg
通讯作者：
U. Schnakenberg
用于表征神经刺激电极的脉冲钳位技术
DOI：
--
发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
--
作者：
A. Hung;David D. Zhou;R. Greenberg;I. Goldberg;J. Judy
通讯作者：
J. Judy