Reliability and lifetime estimations of GaN-on-GaN vertical pn diodes
Reliability and lifetime estimations of GaN-on-GaN vertical pn diodes
复制标题
GaN-on-GaN 垂直 pn 二极管的可靠性和寿命估计
DOI：
10.1016/j.microrel.2019.02.013
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发表时间：
2019
影响因子：
1.6
通讯作者：
Rackauskas B
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Rackauskas B
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影响因子：
3.1
作者：
Chen, Kevin J.;Haeberlen, Oliver;Wu, Yifeng
通讯作者：
Wu, Yifeng
影响因子：
4.9
作者：
Yuhao Zhang;D. Piedra;Min-Chul Sun;J. Hennig;A. Dadgar;Lili Yu;T. Palacios
通讯作者：
Yuhao Zhang;D. Piedra;Min-Chul Sun;J. Hennig;A. Dadgar;Lili Yu;T. Palacios
金属氧化物半导体场效应晶体管结漏电流随机电报噪声的机理
DOI：
--
发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
--
作者：
Y. Mori;H. Yoshimoto;K. Takeda;R. Yamada
通讯作者：
R. Yamada
影响因子：
1.6
作者：
Fabris, E.;Meneghini, M.;Zanoni, E.
通讯作者：
Zanoni, E.