T.Ito: "Non-destructive and Quantitative Analysis of Buried Interfaces of Si-Related Crystalline Multilayers Using High-Energy Ion Scattering" Appl.Surf.Sci.(1992)
T.Ito: "Non-destructive and Quantitative Analysis of Buried Interfaces of Si-Related Crystalline Multilayers Using High-Energy Ion Scattering" Appl.Surf.Sci.(1992)
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T.Ito：“利用高能离子散射对硅相关晶体多层的埋入界面进行无损定量分析”Appl.Surf.Sci.(1992)
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在多孔硅上外延生长超薄硅薄膜
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6.7
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6.7
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1.5
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T. Ito
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T. Ito;W. Gibson
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