3D atomic imaging of SiGe system by X-ray fluorescence holography
3D atomic imaging of SiGe system by X-ray fluorescence holography
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X 射线荧光全息技术对 SiGe 系统进行 3D 原子成像
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K.Nakajima et al.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K.Hayashi;Y.Takahashi;E.Matsubara;K.Nakajima et al.
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