Reliability Evaluation Environment for Exploring Design Space of Coarse-Grained Reconfigurable Architectures
Reliability Evaluation Environment for Exploring Design Space of Coarse-Grained Reconfigurable Architectures
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探索粗粒度可重构架构设计空间的可靠性评估环境
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takashi Sato
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takashi Imagawa;Masayuki Hiromoto;Hiroyuki Ochi;Takashi Sato
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适用于空间应用的抗辐射粗粒可重构架构
DOI：
10.1109/ipdps.2007.370379
发表时间：
2007
期刊：
2007 IEEE International Parallel and Distributed Processing Symposium
影响因子：
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作者：
S. Baloch;T. Arslan;A. Stoica
通讯作者：
A. Stoica
热插拔架构扩展可缓解永久性功能单元故障
DOI：
10.1109/fpl.2009.5272428
发表时间：
2009
期刊：
2009 International Conference on Field Programmable Logic and Applications
影响因子：
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作者：
Z. Rákossy;Masayuki Hiromoto;H. Ochi;Yukihiro Nakamura
通讯作者：
Yukihiro Nakamura
NSEU 对商业航空电子设备的影响
DOI：
10.1109/irps.2009.5173249
发表时间：
2009
期刊：
2009 IEEE International Reliability Physics Symposium
影响因子：
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作者：
David C. Matthews;M. Dion
通讯作者：
M. Dion
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
Proceedings of Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Technologies (発表予定)
影响因子：
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作者：
Y. Ko;D. Alnajjar;Y. Mitsuyama;M. Hashimoto;T. Onoye
通讯作者：
T. Onoye