On the method of photoconductive detection of defects in semiconductors by vibrational mode-related Fano resonances
On the method of photoconductive detection of defects in semiconductors by vibrational mode-related Fano resonances
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振动模式相关法诺共振光电导检测半导体缺陷的方法
DOI：
10.1063/1.5037412
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发表时间：
2018
影响因子：
3.2
通讯作者：
E. V. Lavrov
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
F. Herklotz;I. Chaplygin;E. V. Lavrov
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