Layout Recognition Attacks on Split Manufacturing
Layout Recognition Attacks on Split Manufacturing
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分割制造的布局识别攻击
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hu, J.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Xu, W.;Feng, L.;Rajendran, J.;Hu, J.
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邻近攻击是否对集成电路分片制造的安全构成威胁？
DOI：
10.1145/2966986.2967006
发表时间：
2016
期刊：
2016 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
影响因子：
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作者：
Jonathon Magaña;Daohang Shi;A. Davoodi
通讯作者：
A. Davoodi
自动混淆单元布局，实现值得信赖的分体式代工厂设计
DOI：
10.1109/hst.2015.7140237
发表时间：
2015
期刊：
2015 IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust (HOST)
影响因子：
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作者：
Carlos Tadeo Ortega Otero;Jonathan Tse;R. Karmazin;Benjamin Hill;R. Manohar
通讯作者：
R. Manohar
DOI：
10.1109/hst.2014.6855561
发表时间：
2014-05
期刊：
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影响因子：
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作者：
Kaushik Vaidyanathan;Renzhi Liu;Huseyin Ekin Sumbul;Qiuling Zhu;F. Franchetti;Larry Pileggi
通讯作者：
Kaushik Vaidyanathan;Renzhi Liu;Huseyin Ekin Sumbul;Qiuling Zhu;F. Franchetti;Larry Pileggi
使用仅测试的 BEOL 堆栈检测分割制造期间的可靠性攻击
DOI：
10.1145/2593069.2593123
发表时间：
2014
期刊：
2014 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC)
影响因子：
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作者：
Kaushik Vaidyanathan;B. P. Das;L. Pileggi
通讯作者：
L. Pileggi
重新思考分割制造：采用安全布局技术的信息论方法
DOI：
10.1109/iccad.2017.8203796
发表时间：
2017
期刊：
2017 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
影响因子：
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作者：
A. Sengupta;Satwik Patnaik;J. Knechtel;M. Ashraf;S. Garg;O. Sinanoglu
通讯作者：
O. Sinanoglu