Error Rate Test of Large-Scale SFQ Digital Circuit Systems
Error Rate Test of Large-Scale SFQ Digital Circuit Systems
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大规模SFQ数字电路系统的误码率测试
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S.Yorozu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Fujiwara;N.Nakajima;T.Nishigai;M.Ito;N.Yoshikawa;A.Fujimaki;H.Terai;S.Yorozu
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