Bootstrapped Driver and the Single-Event-Upset Effect
Bootstrapped Driver and the Single-Event-Upset Effect
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自举驱动程序和单事件翻转效应
DOI：
10.1109/tcsi.2020.3008112
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Al-Daloo M
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Al-Daloo M
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数字电路中辐射引起的软错误 - 文献调查
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
--
作者：
T. Heijmen
通讯作者：
T. Heijmen
超低功耗集成电路设计：电路、系统和应用
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
N. Tan;Dongmei Li;Zhihua Wang
通讯作者：
Zhihua Wang
ULSI 设备和电子系统中的地面辐射效应
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
E. Ibe
通讯作者：
E. Ibe
DOI：
10.1109/icecs.2016.7841252
发表时间：
2016-12
期刊：
2016 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS)
影响因子：
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作者：
Mohammed Al-daloo;A. Yakovlev;Basel Halak
通讯作者：
Mohammed Al-daloo;A. Yakovlev;Basel Halak
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DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
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影响因子：
--
作者：
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通讯作者：
C. Su