Characterization of crystallographic defects in homoepitaxial diamond films by synchrotron X-ray topography and cathodoluminescence ECSCRM 2010
Characterization of crystallographic defects in homoepitaxial diamond films by synchrotron X-ray topography and cathodoluminescence ECSCRM 2010
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通过同步加速器 X 射线形貌和阴极发光表征同质外延金刚石薄膜中的晶体缺陷 ECSCRM 2010
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
S.Shikata
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
H.Umezawa;Y.Kato;A.M.M.Omer;H.Yamaguchi;S.Shikata
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影响因子：
4.1
作者：
A. R. Lang
通讯作者：
A. R. Lang
影响因子：
1.5
作者：
H. Umezawa;Takeyasu Saito;N. Tokuda;M. Ogura;S. Ri;H. Yoshikawa;S. Shikata
通讯作者：
H. Umezawa;Takeyasu Saito;N. Tokuda;M. Ogura;S. Ri;H. Yoshikawa;S. Shikata
影响因子：
1.5
作者：
T. Teraji;S. Koizumi;Y. Koide;T. Ito
通讯作者：
T. Teraji;S. Koizumi;Y. Koide;T. Ito
同质外延 CVD 金刚石的光学显微、同步加速器 X 射线形貌和网状研究
DOI：
--
发表时间：
1999
期刊：
影响因子：
--
作者：
A. R. Lang;A. Makepeace;W. Alexander;T. McCormick;P. Pehrsson;J. Butler
通讯作者：
J. Butler
合成 IIa 钻石的测角和形貌特征
DOI：
10.1088/0022-3727/38/10a/012
发表时间：
2005
期刊：
Journal of Physics D: Applied Physics
影响因子：
--
作者：
K. Tamasaku;T. Ueda;D. Miwa;T. Ishikawa
通讯作者：
T. Ishikawa