A hybrid scanning mode for fast scanning ion conductance microscopy (SICM) imaging.
A hybrid scanning mode for fast scanning ion conductance microscopy (SICM) imaging.
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DOI：
10.1016/j.ultramic.2012.06.015
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发表时间：
2012-10
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
Klenerman, David
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zhukov, Alex;Richards, Owen;Ostanin, Victor;Korchev, Yuri;Klenerman, David
我们已经开发出一种新的方法来控制移液器扫描离子电导显微镜，以获得高分辨率的图像更快。该方法在单线扫描期间保持移液管靠近表面，但不遵循通过使用离子电流计算的精确表面形貌。使用FPGA平台，我们证明了这种新的方法模型测试样品，然后在活细胞。这种方法对于以高空间和时间分辨率跟踪细胞表面相对平坦区域上发生的变化特别有用。介绍了一种快速扫描离子电导显微镜（FSCIM）的新方法。基于现场可编程门阵列的自适应扫描方法。与其他SICM控制方法相比，SICM方法提高了采样率。⑶在活A6细胞上进行的跳频模式SICM和FSICM的比较。
We have developed a new method of controlling the pipette for scanning ion conductance microscopy to obtain high-resolution images faster. The method keeps the pipette close to the surface during a single line scan but does not follow the exact surface topography, which is calculated by using the ion current. Using an FPGA platform we demonstrate this new method on model test samples and then on live cells. This method will be particularly useful to follow changes occurring on relatively flat regions of the cell surface at high spatial and temporal resolutions. ► We introduce a new method for fast scanning ion conductance microscopy (FSCIM). ► Method based on adaptive scanning using a field programmable gate array. ► Method gives improved sampling rate compared to other SICM control methods. ► Comparison of hopping mode SICM and FSICM made on live A6 cells.
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影响因子：
48
作者：
Novak, Pavel;Li, Chao;Shevchuk, Andrew I.;Stepanyan, Ruben;Caldwell, Matthew;Hughes, Simon;Smart, Trevor G.;Gorelik, Julia;Ostanin, Victor P.;Lab, Max J.;Moss, Guy W. J.;Frolenkov, Gregory I.;Klenerman, David;Korchev, Yuri E.
通讯作者：
Korchev, Yuri E.
DOI：
10.1016/j.pnsc.2008.01.011
发表时间：
2008-06-10
影响因子：
4.7
作者：
Li, Chao;Johnson, Nicholas;Klenerman, David
通讯作者：
Klenerman, David
影响因子：
4.1
作者：
Gorelik, J;Zhang, YJ;Korchev, YE
通讯作者：
Korchev, YE
影响因子：
3.4
作者：
Shevchuk, AI;Gorelik, J;Korchev, YE
通讯作者：
Korchev, YE
影响因子：
2.2
作者：
Pastré, D;Iwamoto, H;Shao, ZF
通讯作者：
Shao, ZF