Material-specific imaging of nanolayers using extreme ultraviolet coherence tomography
Material-specific imaging of nanolayers using extreme ultraviolet coherence tomography
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使用极紫外相干断层扫描对纳米层进行材料特异性成像
DOI：
10.1364/optica.412036
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
10.4
通讯作者：
G. G. Paulus
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
F. Wiesner;M. Wünsche;J. Reinhard;J. J. Abel;J. Nathanael;S. J. Skruszewicz;C. Rödel;S. Yulin;A. Gawlik;G. Schmidl;U. Hübner;J. Plentz;G. G. Paulus
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针对谐波光谱和 XUV 光束分析而优化的高分辨率极紫外光谱仪系统
DOI：
10.1063/1.5054116
发表时间：
2019
期刊：
The Review of scientific instruments
影响因子：
--
作者：
M. Wünsche;S. Fuchs;T. Weber;J. Nathanael;J. J. Abel;J. Reinhard;F. Wiesner;U. Hübner;S. J. Skruszewicz;G. G. Paulus;C. Rödel
通讯作者：
C. Rödel
掠入射条件下反射X射线吸收精细结构的X射线吸收近边光谱☆
DOI：
--
发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
--
作者：
K. Tani;N. Iwata;Toshihiko Mitsueda;Masato Ueha;H. Saisho;H. Iwasaki
通讯作者：
H. Iwasaki
薄膜 X 射线镜面反射干涉结构的傅里叶分析
DOI：
--
发表时间：
1992
期刊：
影响因子：
--
作者：
K. Iida
通讯作者：
K. Iida
使用高次谐波产生的多个频率梳的极紫外准超连续谱源。
影响因子：
3.8
作者：
M. Wünsche;S. Fuchs;Stefan Aull;J. Nathanael;M. Möller;C. Rödel;G. Paulus
通讯作者：
G. Paulus
纳米层状结构材料的软 X 射线反射光谱
影响因子：
4.6
作者：
A. Majhi;A. Majhi;M. Nayak;M. Nayak;P. Pradhan;P. Pradhan;E. Filatova;A. Sokolov;F. Schäfers
通讯作者：
F. Schäfers