Fault diagnosis for RAMs using Walsh spectrum
Fault diagnosis for RAMs using Walsh spectrum
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基于 Walsh 谱的 RAM 故障诊断
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Sasao
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A.Iseno;Y.Iguchi;T.Sasao
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影响因子：
1.7
作者：
Walsh, JL
通讯作者：
Walsh, JL
DOI：
10.1007/978-1-4613-1385-4_3
发表时间：
1996
期刊：
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影响因子：
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作者：
R. Stankovic;Tsutomu Sasao;C. Moraga
通讯作者：
C. Moraga
通过验证沃尔什系数进行测试
影响因子：
3.7
作者：
A. K. Susskind
通讯作者：
A. K. Susskind
在制造环境中进行组件测试和老化期间为 RAM 生成伪故障位图
DOI：
10.1109/test.2001.966698
发表时间：
2001
期刊：
Proceedings International Test Conference 2001 (Cat. No.01CH37260)
影响因子：
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作者：
J. Vollrath;R. Rooney
通讯作者：
R. Rooney
一种在老化存储器测试仪中存储失效位图的方法
DOI：
10.1109/delta.2002.994603
发表时间：
2002
期刊：
Proceedings First IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications '2002
影响因子：
--
作者：
Atsumu Iseno;Y. Iguchi
通讯作者：
Y. Iguchi