Optical Pump Rectification Emission: Route to Terahertz Free-Standing Surface Potential Diagnostics.
Optical Pump Rectification Emission: Route to Terahertz Free-Standing Surface Potential Diagnostics.
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光泵矫正发射：到Terahertz独立表面电势诊断的途径。
DOI：
10.1038/s41598-017-08734-z
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发表时间：
2017-08-29
影响因子：
4.6
通讯作者：
Peccianti M
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Peters L;Tunesi J;Pasquazi A;Peccianti M
介绍了一种基于太赫兹表面产生的半导体表面电势诊断方法。在我们的方案中，我们称之为光泵浦整流发射，通过超短脉冲的表面光整流直接在表面产生THz场，然后用第二个光泵浦脉冲屏蔽直流表面势。由于太赫兹的产生与表面态产生的表面势直接相关，因此我们可以观察到由光载流子屏蔽效应引起的静态表面场的时间动力学。这种方法潜在地对散货船的动态不敏感，并且不需要特殊的照明几何形状。
We introduce a method for diagnosing the electric surface potential of a semiconductor based on THz surface generation. In our scheme, that we name Optical Pump Rectification Emission, a THz field is generated directly on the surface via surface optical rectification of an ultrashort pulse after which the DC surface potential is screened with a second optical pump pulse. As the THz generation directly relates to the surface potential arising from the surface states, we can then observe the temporal dynamics of the static surface field induced by the screening effect of the photo-carriers. Such an approach is potentially insensitive to bulk carrier dynamics and does not require special illumination geometries.
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影响因子：
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作者：
NUSS, MC;AUSTON, DH;CAPASSO, F
通讯作者：
CAPASSO, F
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通讯作者：
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作者：
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通讯作者：
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10.1364/josab.7.002006
发表时间：
1990-10-01
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10.1016/0921-5107(93)90225-c
发表时间：
1993-12-20
期刊：
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY
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--
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KURZ, H