Efficient path delay test generation based on stuck-at test generation using checker circuitry
Efficient path delay test generation based on stuck-at test generation using checker circuitry
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基于使用检查器电路的固定测试生成的高效路径延迟测试生成
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Mineo Kaneko Hideo Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tsuyoshi Iwagaki;Satoshi Ohtake;Mineo Kaneko Hideo Fujiwara
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DYNAMITE：针对路径延迟故障的高效自动测试模式生成系统
DOI：
10.1109/43.88928
发表时间：
1991
期刊：
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
影响因子：
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作者：
K. Fuchs;F. Fink;M. Schulz
通讯作者：
M. Schulz
路径延迟故障的测试生成系统
DOI：
10.1109/iccd.1989.63324
发表时间：
1989
期刊：
Proceedings 1989 IEEE International Conference on Computer Design: VLSI in Computers and Processors
影响因子：
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作者：
S. Patil;S. Reddy
通讯作者：
S. Reddy
DOI：
10.1109/ats.1996.555128
发表时间：
1996
期刊：
Proceedings of the Fifth Asian Test Symposium (ATS'96)
影响因子：
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作者：
Hsing;Chung;Jwu
通讯作者：
Jwu
一种基于固定故障测试生成算法的路径延迟故障测试生成方法
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
Trans. of IEICE (DI) (in Japanese) Vol.J88-D-I, No.6
影响因子：
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作者：
Kouhei Ohtani;Satoshi Ohtake;Hideo Fujiwara
通讯作者：
Hideo Fujiwara