A Test Generation Method for Path Delay Faults Using Stuck-at Fault Test Generation Algorithms
A Test Generation Method for Path Delay Faults Using Stuck-at Fault Test Generation Algorithms
复制标题
一种基于固定故障测试生成算法的路径延迟故障测试生成方法
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hideo Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kouhei Ohtani;Satoshi Ohtake;Hideo Fujiwara
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用于减少路径计数和路径延迟故障可测试性的组合电路的重新综合
DOI：
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发表时间：
1996
期刊：
Proceedings ED&TC European Design and Test Conference
影响因子：
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作者：
Angela Krstic;K. Cheng
通讯作者：
K. Cheng
欧洲会议及展览设计、自动化和测试论文集
DOI：
10.1109/date.2003.1253577
发表时间：
2003
期刊：
2003 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
影响因子：
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作者：
Keerthi Heragu;V. Agrawal;M. Bushnell
通讯作者：
M. Bushnell
DYNAMITE：针对路径延迟故障的高效自动测试模式生成系统
DOI：
10.1109/43.88928
发表时间：
1991
期刊：
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
影响因子：
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作者：
K. Fuchs;F. Fink;M. Schulz
通讯作者：
M. Schulz
DOI：
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发表时间：
1995
期刊：
Design Automation Conference
影响因子：
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作者：
I. Pomeranz;S. Reddy
通讯作者：
S. Reddy
延迟故障覆盖分析的统计方法
DOI：
10.1109/icvd.1995.512098
发表时间：
1995
期刊：
Proceedings of the 8th International Conference on VLSI Design
影响因子：
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作者：
Keerthi Heragu;V. Agrawal;M. Bushnell
通讯作者：
M. Bushnell