Microstructure of V-based ohmic contacts to AlGaN/GaN heterostructures at a reduced annealing temperature

Microstructure of V-based ohmic contacts to AlGaN/GaN heterostructures at a reduced annealing temperature
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降低退火温度下 AlGaN/GaN 异质结构的 V 基欧姆接触的微观结构

DOI:
10.1063/1.4907735
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发表时间:
2015
影响因子:
4
通讯作者:
J. Heitmann
J. Heitmann
中科院分区:
物理与天体物理2区
文献类型:
--
作者:
A. Schmid;Ch. Schröter;R. Otto;M. Schuster;V. Klemm;D. Rafaja;J. Heitmann

文献摘要

参考文献

被引文献

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J. Haag
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