Design Methodology of Process Variation Tolerant D-Flip-Flops for Low Voltage Circuit Operation
Design Methodology of Process Variation Tolerant D-Flip-Flops for Low Voltage Circuit Operation
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用于低压电路操作的可容忍工艺变化的 D 触发器的设计方法
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hidetoshi Onodera
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shinichi Nishizawa;Tohru Ishihara;Hidetoshi Onodera
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影响因子：
3.1
作者：
Kuhn, Kelin J.;Giles, Martin D.;Mudanai, Sivakumar
通讯作者：
Mudanai, Sivakumar
工艺变化对触发器能量和时序特性的影响
DOI：
10.1109/isvlsi.2010.75
发表时间：
2010
期刊：
2010 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI
影响因子：
--
作者：
M. Lanuzza;R. Rose;F. Frustaci;S. Perri;P. Corsonello
通讯作者：
P. Corsonello
针对过程变化具有鲁棒性的时钟存储元件的设计方法
DOI：
10.1109/cenics.2009.16
发表时间：
2009
期刊：
2009 Second International Conference on Advances in Circuits, Electronics and Micro-electronics
影响因子：
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作者：
Joosik Moon;M. Aktan;V. Oklobdzija
通讯作者：
V. Oklobdzija
D 触发器的容变设计
DOI：
10.1109/socc.2010.5784732
发表时间：
2010
期刊：
23rd IEEE International SOC Conference
影响因子：
--
作者：
Hiroki Sunagawa;H. Onodera
通讯作者：
H. Onodera
时钟存储元件对过程变化具有鲁棒性
DOI：
10.1109/asicon.2009.5351566
发表时间：
2009
期刊：
2009 IEEE 8th International Conference on ASIC
影响因子：
--
作者：
Joosik Moon;M. Aktan;V. Oklobdzija
通讯作者：
V. Oklobdzija