Domain boundaries in ScAlMgO<sub>4</sub> single crystal observed by synchrotron radiation x-ray topography and reticulography
Domain boundaries in ScAlMgO<sub>4</sub> single crystal observed by synchrotron radiation x-ray topography and reticulography
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同步辐射X射线形貌和网状成像观察ScAlMgO<sub>4</sub>单晶晶畴边界
DOI：
10.1088/1361-6641/ac974b
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发表时间：
2022
影响因子：
1.9
通讯作者：
Ishikawa Yukari
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Yao Yongzhao;Hirano Keiichi;Sugawara Yoshihiro;Ishikawa Yukari
我们进行了同步辐射X射线形貌术（XRT）和reticulography观察位错和晶体取向不良域边界（DBs）在铝酸钪镁单晶衬底生长通过直拉法。通过在样品和形貌记录介质之间插入一个细尺度的X射线吸收网，可以清楚地观察到网状结构，从而可以直接测量扭曲和瓦片畴的取向差> 5× 10− 5 rad。结果表明，通过应用不同的网格到膜的距离M，然后比较它们的网状图中的相对位移，角分辨率可以进一步提高到优于2× 10− 5 rad。XRT分析揭示的位错在DBs处排列的特征与网状造影结果一致。最后，我们展示了一种方法，结合网状和XRT到一个单一的网状XRT图像，从错位观察和错位测量可以同时进行。
We performed synchrotron radiation x-ray topography (XRT) and reticulography to observe dislocations and crystal misorientation at domain boundaries (DBs) in a scandium magnesium aluminate single-crystal substrate grown via the Czochralski method. By inserting a fine-scale x-ray-absorbing mesh between the sample and the topograph-recording medium, reticulography was clearly observed allowing for direct measurement of twist and tile domain misorientation> 5× 10− 5 rad. The results show that the angular resolution can be further improved to better than 2× 10− 5 rad by applying a different mesh-to-film distance M and then comparing the relative displacement in their reticulographs. The character of dislocations aligning at the DBs revealed by XRT analysis is consistent with the reticulography results. Finally, we demonstrate a method that combines reticulography and XRT into a single reticulographic XRT image, from which dislocation observation and misorientation measurement can be performed simultaneously.
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