Fault Tolerant Reconfigurable Device Based on Autonomous-Repair Cells
Fault Tolerant Reconfigurable Device Based on Autonomous-Repair Cells
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基于自主修复单元的容错可重构器件
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kentaro Nakahara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
近藤 裕佑;他3名;Kentaro Nakahara
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用于基于空间的可重构计算的 VIRTEX FPGA 的辐射特性和 SEU 缓解
DOI：
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发表时间：
2000
期刊：
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影响因子：
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作者：
E. Fuller;M. Caffrey
通讯作者：
M. Caffrey
一种在线可重构FPGA架构
DOI：
10.1109/dftvs.2000.887167
发表时间：
2000
期刊：
Proceedings IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
影响因子：
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作者：
P. Lala;A. Walker
通讯作者：
A. Walker
使用基于 LUT 的 FPGA 的嵌入式存储器实现时序电路中的并发错误检测
DOI：
10.1109/dft.2004.19
发表时间：
2004
期刊：
19th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2004. DFT 2004. Proceedings.
影响因子：
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作者：
A. Krasniewski
通讯作者：
A. Krasniewski
基于 SRAM 的 FPGA 的软错误缓解
DOI：
10.1109/vts.2005.75
发表时间：
2005
期刊：
23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05)
影响因子：
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作者：
H. Asadi;M. Tahoori
通讯作者：
M. Tahoori
基于具有回滚功能的EDAC的容错动态可重构器件
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
IEICE Trans.on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences Vol.E89-A
影响因子：
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作者：
Noriko Matsumoto;et. al.;Kentaro Nakahara
通讯作者：
Kentaro Nakahara