Special Session: Security Verification & Testing for SR-Latch TRNGs

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特别会议:安全验证

DOI:
10.1109/vts56346.2023.10140057
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发表时间:
2023
期刊:
IEEE VLSI Test Symposium (VTS
影响因子:
--
通讯作者:
Karimi, Naghmeh
Karimi, Naghmeh
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Bahrami, Javad;Ebrahimabadi, Mohammad;Danger, Jean-Luc;Guilley, Sylvain;Karimi, Naghmeh

文献摘要

参考文献

被引文献

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