Leakage Power Analysis in Different S-Box Masking Protection Schemes
Leakage Power Analysis in Different S-Box Masking Protection Schemes
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不同S-Box掩蔽保护方案中的泄漏功率分析
DOI：
10.23919/date54114.2022.9774763
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Karimi, Naghmeh
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Bahrami, Javad;Ebrahimabadi, Mohammad;Danger, Jean-Luc;Guilley, Sylvain;Karimi, Naghmeh
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老化对针对功率均衡密码电路的功率分析攻击的影响
DOI：
--
发表时间：
2021
期刊：
Proceedings of the ASPDAC Asia and South Pacific Design Automation Conference
影响因子：
--
作者：
Anik, Md Toufiq;Fadaeinia, Bijan;Moradi, Amir;Karimi, Naghmeh
通讯作者：
Karimi, Naghmeh
强力侧信道攻击：我们站在哪里？
DOI：
10.1109/dtis53253.2021.9505075
发表时间：
2021
期刊：
2021 16th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS)
影响因子：
--
作者：
M. Taouil;Abdullah Aljuffri;S. Hamdioui
通讯作者：
S. Hamdioui
通过正交分解进行随机侧通道泄漏分析
DOI：
10.1007/978-3-319-69284-5_2
发表时间：
2017
期刊：
20th International Conference on VLSI Design held jointly with 6th International Conference on Embedded Systems (VLSID'07)
影响因子：
--
作者：
S. Guilley;Annelie Heuser;Ming Tang;O. Rioul
通讯作者：
O. Rioul
GliFreD：在 FPGA 上实现功率均衡电路的无干扰复制
影响因子：
3.7
作者：
A. Wild;A. Moradi;Tim Güneysu
通讯作者：
Tim Güneysu
老化传感器插入的早期预测方法，以确保由于 NBTI 老化而导致的电路安全运行
DOI：
10.1109/vts.2015.7116290
发表时间：
2015
期刊：
2015 IEEE 33rd VLSI Test Symposium (VTS)
影响因子：
--
作者：
Andres F. Gomez;L. Poehls;F. Vargas;V. Champac
通讯作者：
V. Champac