Characterization of Molecular Assemblies on Silicon Surfaces by Attenuated Total Reflectance Infrared Spectroscopy
Characterization of Molecular Assemblies on Silicon Surfaces by Attenuated Total Reflectance Infrared Spectroscopy
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通过衰减全反射红外光谱表征硅表面的分子组装体
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Masato Ara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masato Ara
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影响因子：
15
作者：
Song, JH;Sailor, MJ
通讯作者：
Sailor, MJ
影响因子：
4
作者：
HIGASHI, GS;CHABAL, YJ;RAGHAVACHARI, K
通讯作者：
RAGHAVACHARI, K
Si(111) 上形成的有机单分子层的评估：探索在电子束纳米级图案化中应用的可能性
影响因子：
1.5
作者：
Taro Yamada;N. Takano;Keiko Yamada;Shuhei Yoshitomi;Tomoyuki Inoue;T. Osaka
通讯作者：
T. Osaka
通过真空紫外光刻在氢封端硅上微图案化 1-烯烃自组装单层
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
Jpn.J.Appl.Phys. 42
影响因子：
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作者：
Hiroyuki Sugimura;Nagahiro Saito;Sun-Hyung Lee;Osamu Takai;H.Sugimura et al.;Y.Wu et al.;N.SAito et al.;L.Hong et al.;L.Hong et al.;L.Hong et al.;N.Saito et al.
通讯作者：
N.Saito et al.
通过 ATR-FT-IR 光谱研究 Si(111) 表面上通过 Si-C 键的烷基单层结构的温度依赖性
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
Chemistry Letters 33
影响因子：
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作者：
Ryo Yamada;et al.
通讯作者：
et al.