Surface Damage of Whisker-Type Cold Emitter after Overload Test
Surface Damage of Whisker-Type Cold Emitter after Overload Test
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晶须型冷发射器过载试验后表面损伤
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H.Saitoh
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Washio;Y.Ohkawara;S.Ohshio;H.Ito;H.Saitoh
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DOI：
10.1143/jjap.39.4148
发表时间：
2000-07-01
期刊：
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS
影响因子：
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作者：
Tanaka, D;Ohkawara, Y;Saitoh, H
通讯作者：
Saitoh, H
利用解离激发反应合成非晶氮化碳薄膜
影响因子：
1.5
作者：
H. Saitoh;H. Takamatsu;D. Tanaka;N. Ito;S. Ohshio;Haruhiko Ito
通讯作者：
Haruhiko Ito
非晶碳改性Al:ZnO晶须及相关薄膜的场发射性能
影响因子：
1.5
作者：
Y. Ohkawara;T. Naijo;T. Washio;S. Ohshio;Haruhiko Ito;H. Saitoh
通讯作者：
H. Saitoh
DOI：
10.1143/jjap.40.7007
发表时间：
2001-12-01
期刊：
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS
影响因子：
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作者：
Ohkawara, Y;Ohshio, S;Saitoh, H
通讯作者：
Saitoh, H
G.Sazaki 等人：“使用 10T 的静态均匀场对 NaCl 水溶液中温度驱动的对流进行磁阻尼”Jpn。
DOI：
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发表时间：
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期刊：
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作者：
通讯作者：
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