SECURE: A Segmentation Quality Evaluation Metric on SEM Images for Reverse Engineering on Integrated Circuits
SECURE: A Segmentation Quality Evaluation Metric on SEM Images for Reverse Engineering on Integrated Circuits
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安全：用于集成电路逆向工程的 SEM 图像分割质量评估指标
DOI：
10.1109/access.2023.3340618
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
3.9
通讯作者：
Woodard, Damon L.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Wilson, Ronald;Dizon-Paradis, Olivia P.;Forte, Domenic;Woodard, Damon L.
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DOI：
--
发表时间：
2020
期刊：
Journal of Hardware and Systems Security
影响因子：
--
作者：
Adam G. Kimura;Jonathan Scholl;James Schaffranek;Matt Sutter;Andrew Elliott;Michael Strizich;G. Via
通讯作者：
G. Via
用于延迟 IC 图像免训练分析的全局模板投影和匹配方法
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
International Symposium on Circuits and Systems
影响因子：
--
作者：
Deruo Cheng;Yiqiong Shi;Tong Lin;B. Gwee;Kar
通讯作者：
Kar
基于直方图的自动分割：一种从 SEM 图像分割集成电路结构的新方法
DOI：
--
发表时间：
2020
期刊：
arXiv.org
影响因子：
--
作者：
Ronald Wilson;Navid Asadizanjani;Domenic Forte;D. Woodard
通讯作者：
D. Woodard
硬件 IP 保护的自动化延迟 IC 分析
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
Coins
影响因子：
--
作者：
Esha Sarkar;Michail Maniatakos
通讯作者：
Michail Maniatakos
第一个用于硬件保证和逆向工程集成电路的自动放大器平台
影响因子：
2.8
作者：
Ronald Wilson, Navid Asadizanjani
通讯作者：
Ronald Wilson, Navid Asadizanjani