Electrical contact properties between carbon nanotube ends and a conductive atomic force microscope tip
Electrical contact properties between carbon nanotube ends and a conductive atomic force microscope tip
复制标题
碳纳米管末端与导电原子力显微镜尖端之间的电接触特性
DOI：
10.1063/1.5027849
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发表时间：
2018
影响因子：
3.2
通讯作者：
Kawarada Hiroshi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Inaba Masafumi;Ohara Kazuyoshi;Shibuya Megumi;Ochiai Takumi;Yokoyama Daisuke;Norimatsu Wataru;Kusunoki Michiko;Kawarada Hiroshi
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Guofang Zhong;T. Iwasaki;K. Honda;Y. Furukawa;I. Ohdomari;H. Kawarada