Microshape Measurement Method Using Speckle Interferometry Based on Phase Analysis
Microshape Measurement Method Using Speckle Interferometry Based on Phase Analysis
复制标题
基于相位分析的散斑干涉微形状测量方法
DOI：
10.3390/photonics8040112
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
2.4
通讯作者：
Arai Yasuhiko
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Yusuke Hirota;Shinya Nakamura;Kohei Shiomoto;Hidetsugu Sugiyama;Noboru Yoshikane;Satoru Okamoto;Masaki Murakami;Takahiro Hirayama;Satoshi Yamanoi;Arai Yasuhiko
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通讯作者：
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--
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Y. Arai;S. Yokozeki
通讯作者：
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1996
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
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通讯作者：
Tomoharu Yamada