Effect of supply voltage on random telegraph noise of transistors under switching condition
Effect of supply voltage on random telegraph noise of transistors under switching condition
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开关条件下电源电压对晶体管随机电报噪声的影响
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hidetoshi Onodera
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A.K.M. Mahfuzul Islam;Hidetoshi Onodera
CMOS 技术表征和产品影响评估的数据分析技术
DOI：
10.1109/test.2006.297743
发表时间：
2006
期刊：
2006 IEEE International Test Conference
影响因子：
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作者：
A. Gattiker;M. Bhushan;M. Ketchen
通讯作者：
M. Ketchen
低电压操作下随机电报噪声对 CMOS 逻辑延迟不确定性的影响
DOI：
10.1109/iedm.2012.6479104
发表时间：
2012
期刊：
2012 International Electron Devices Meeting
影响因子：
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作者：
Takashi Matsumoto;Kazutoshi Kobayashi;H. Onodera
通讯作者：
H. Onodera
用于 NBTI 分析的基于环形振荡器的测试结构
DOI：
10.1109/icmts.2007.374452
发表时间：
2007
期刊：
2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
影响因子：
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作者：
M. Ketchen;M. Bhushan;R. Bolam
通讯作者：
R. Bolam