Atomic relocation in ion-bombarded ultra-thin films analyzed with sub-nm spatial resolution
Atomic relocation in ion-bombarded ultra-thin films analyzed with sub-nm spatial resolution
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以亚纳米空间分辨率分析离子轰击超薄膜中的原子重定位
DOI：
10.1016/j.nimb.2013.04.013
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发表时间：
2013
影响因子：
1.3
通讯作者：
B. Reuscher
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
H. Gnaser;R. Schiller;M. Wahl;B. Reuscher
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