Incremental computation of delay fault detection probability for variation-aware test generation
Incremental computation of delay fault detection probability for variation-aware test generation
复制标题
用于变化感知测试生成的延迟故障检测概率的增量计算
DOI：
10.1109/ets.2014.6847805
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发表时间：
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期刊：
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通讯作者：
Wunderlich
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wagner;Wunderlich
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DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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作者：
Yamamoto;et al.
通讯作者：
et al.
针对弱 CMOS 逻辑 IC 的超低电压测试
DOI：
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发表时间：
1993
期刊：
International Test Conference
影响因子：
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作者：
Hong Hao;E. McCluskey
通讯作者：
E. McCluskey
危险感知统计时序模拟及其在筛查频率相关缺陷中的应用
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
IEEE International Conference on Test, 2005.
影响因子：
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作者：
Benjamin N. Lee;Hui Li;Li;M. Abadir
通讯作者：
M. Abadir
冷延迟缺陷筛查
DOI：
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发表时间：
2000
期刊：
Proceedings of the ... IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
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作者：
Chao;E. McCluskey;Xi‐Bin Shao;David M. Wu
通讯作者：
David M. Wu
自适应测试：克服过程变化
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
IEEE European Test Symposium
影响因子：
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作者：
E. Yilmaz;S. Ozev;O. Sinanoglu;P. Maxwell
通讯作者：
P. Maxwell