Characterisation of edgeless technologies for pixellated and strip silicon detectors with a micro-focused X-ray beam
Characterisation of edgeless technologies for pixellated and strip silicon detectors with a micro-focused X-ray beam
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采用微聚焦 X 射线束的像素化和带状硅探测器的无边缘技术的表征
DOI：
10.1088/1748-0221/8/01/p01018
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发表时间：
2013
影响因子：
1.3
通讯作者：
Bates R
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Bates R
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6 英寸高阻 SOI 晶圆上的 3D 处理：无边条带和像素探测器的制造
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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作者：
S. Eränen;J. Kalliopuska;R. Orava;N. Remortel;T. Virolainen
通讯作者：
T. Virolainen
与 Medipix2 读出芯片耦合的无边缘像素探测器的表征
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
作者：
J. Kalliopuska;L. Tlustos;S. Eränen;T. Virolainen
通讯作者：
T. Virolainen
Beetle 参考手册 - 芯片版本 1.3、1.4 和 1.5
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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作者：
S. Löchner;M. Schmelling
通讯作者：
M. Schmelling
ATLAS 平面像素传感器 R
DOI：
10.1109/nssmic.2009.5402434
发表时间：
2009
期刊：
2009 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record (NSS/MIC)
影响因子：
--
作者：
M. Beimforde;D. Muenstermann
通讯作者：
D. Muenstermann
XFEL 为 LPD 混合像素探测器开发无边缘传感器
DOI：
10.1016/j.nima.2009.03.114
发表时间：
2009
期刊：
Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
影响因子：
--
作者：
Blue A
通讯作者：
Blue A