Microstructures and Microhardness in Cr_xAl_yN Films Synthesized by Cathodic Arc Method
Microstructures and Microhardness in Cr_xAl_yN Films Synthesized by Cathodic Arc Method
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阴极电弧法合成Cr_xAl_yN薄膜的显微组织和显微硬度
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Sato et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
中野義夫;斉藤真紀;廣川能嗣;中野 義夫 他;中野義夫 他;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;入谷 英司;入谷 英司;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;入谷 英司;入谷 英司;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;入谷 英司;E.Iritani;E.Iritani;E.Iritani;T.Sato et al.
三元 Al-B-N 薄膜的表征
影响因子：
2.1
作者：
M. Witthaut;R. Cremer;K. Reichert;D. Neuschütz
通讯作者：
D. Neuschütz
影响因子：
2.1
作者：
WAHLSTROM, U;HULTMAN, L;GREENE, JE
通讯作者：
GREENE, JE
影响因子：
5.4
作者：
Hasegawa, H;Kimura, A;Suzuki, T
通讯作者：
Suzuki, T