Static Power SCA of Sub-100 nm CMOS ASICs and the Insecurity of Masking Schemes in Low-Noise Environments
Static Power SCA of Sub-100 nm CMOS ASICs and the Insecurity of Masking Schemes in Low-Noise Environments
复制标题
低于 100 nm CMOS ASIC 的静态功耗 SCA 以及低噪声环境中掩蔽方案的不安全性
DOI：
10.13154/tches.v2019.i3.202-232
复制
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
T. Moos
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Moos
登录
查看更多内容
90 纳米以下 CMOS 密码系统上基于泄漏的差分功耗分析 (LDPA)
DOI：
10.1109/iscas.2008.4541402
发表时间：
2008
期刊：
2008 IEEE International Symposium on Circuits and Systems
影响因子：
--
作者：
Lang Lin;W. Burleson
通讯作者：
W. Burleson
针对 Serpent 分组密码的位片实现的泄漏功率分析攻击
DOI：
10.1109/mixdes.2014.6872193
发表时间：
2014
期刊：
2014 Proceedings of the 21st International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES)
影响因子：
--
作者：
M. Alioto;Simone Bongiovanni;G. Scotti;A. Trifiletti
通讯作者：
A. Trifiletti
密码硬件和嵌入式系统（CHES99）国际会议参与报告
DOI：
--
发表时间：
1999
期刊：
影响因子：
--
作者：
中嶋 純子;反町 亨
通讯作者：
反町 亨
影响因子：
2.2
作者：
Abbas, Zia;Olivieri, Mauro
通讯作者：
Olivieri, Mauro
DOI：
10.23919/date.2017.7927198
发表时间：
2017
期刊：
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017
影响因子：
--
作者：
T. Moos;A. Moradi;B. Richter
通讯作者：
B. Richter