A Yield-Reliability Relation Modeling Approach based on Random Effects Degradation Models
A Yield-Reliability Relation Modeling Approach based on Random Effects Degradation Models
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基于随机效应退化模型的产量-可靠性关系建模方法
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kuo, Y
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yuan, T;Zhu, X;Kuo, Y
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存在制造缺陷时存在电迁移引起的退化的 IC 互连的寿命预测和可靠性设计
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
Journal of electronic testing
影响因子：
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作者：
Xiangdong Xuan;A. Singh;A. Chatterjee
通讯作者：
A. Chatterjee
使用空间非齐次泊松过程对集成电路成品率进行建模
影响因子：
2.7
作者：
Jung Yoon Hwang;W. Kuo;Chunghun Ha
通讯作者：
Chunghun Ha
可靠性、良率和应力老化
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作者：
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通讯作者：
Taeho Kim
用于产量和可靠性管理的空间随机过程及其在纳米电子学中的应用
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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作者：
Jung Yoon Hwang
通讯作者：
Jung Yoon Hwang