Dielectric screening effects in molten AgI-AgBr system
Dielectric screening effects in molten AgI-AgBr system
复制标题
熔融 AgI-AgBr 体系中的介电屏蔽效应
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Koishi and S.Tamaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Matsunaga;M.Saito;T.Koishi and S.Tamaki
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影响因子：
38.3
作者：
通讯作者：
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包含片上匹配电路的 5.8 GHz RF 收发器 LSI
DOI：
10.1109/bipol.2006.311172
发表时间：
2006
期刊：
2006 Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting
影响因子：
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作者：
M. Nagata;H. Masuoka;S. Fukase;M. Kikuta;M. Morita;N. Itoh
通讯作者：
N. Itoh
影响因子：
38.3
作者：
通讯作者：
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影响因子：
6.1
作者：
Emaminejad S;Javanmard M;Dutton RW;Davis RW
通讯作者：
Davis RW
影响因子：
6.1
作者：
Sista R;Hua Z;Thwar P;Sudarsan A;Srinivasan V;Eckhardt A;Pollack M;Pamula V
通讯作者：
Pamula V