Dielectric screening effects in molten AgI-AgBr system
Dielectric screening effects in molten AgI-AgBr system
复制标题
熔融 AgI-AgBr 体系中的介电屏蔽效应
DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
T.Koishi and S.Tamaki
中科院分区:
文献类型:
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作者:
S.Matsunaga;M.Saito;T.Koishi and S.Tamaki
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影响因子:
38.3
作者:
通讯作者:
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DOI:
10.1109/bipol.2006.311172
发表时间:
2006
期刊:
2006 Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting
影响因子:
--
作者:
M. Nagata;H. Masuoka;S. Fukase;M. Kikuta;M. Morita;N. Itoh
通讯作者:
N. Itoh
影响因子:
38.3
作者:
通讯作者:
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影响因子:
6.1
作者:
Emaminejad S;Javanmard M;Dutton RW;Davis RW
通讯作者:
Davis RW
DOI:
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发表时间:
2012
期刊:
Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference
影响因子:
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作者:
Jaehyup Kim;B. Hammer;R. Harjani
通讯作者:
R. Harjani