Open Lead Detection Based on Logical Change Caused by AC Voltage Signal Stimulus
Open Lead Detection Based on Logical Change Caused by AC Voltage Signal Stimulus
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基于交流电压信号刺激引起的逻辑变化的开路检测
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Masaki Hashizume
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Akira Ono;Masahiro Ichimiya;Hiroyuki Yotsuyanagi;Masao Takagi;Masaki Hashizume
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基于资源共享位传递矩阵的FMS高效死锁检测
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
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影响因子：
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作者：
Jong;Jongkun Lee
通讯作者：
Jongkun Lee
无动力打开 X 射线断层扫描测试
DOI：
10.1109/test.1997.639625
发表时间：
1996
期刊：
Proceedings International Test Conference 1997
影响因子：
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作者：
S. Oresjo
通讯作者：
S. Oresjo
识别印刷电路板上开路的两种新技术：模拟、结点测试和射频感应测试
DOI：
10.1109/test.1996.557157
发表时间：
1996
期刊：
Proceedings International Test Conference 1996. Test and Design Validity
影响因子：
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作者：
Joseph F. Wrinn
通讯作者：
Joseph F. Wrinn
I 型全一个多项式域中的快速平方
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
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影响因子：
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作者：
Hidehiro Kato;Y. Nogami;Y. Morikawa
通讯作者：
Y. Morikawa
通过使用寄生晶体管的无矢量测试技术实现电路内 IC 引脚故障的高故障覆盖率
DOI：
10.1109/test.1996.557156
发表时间：
1996
期刊：
Proceedings International Test Conference 1996. Test and Design Validity
影响因子：
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作者：
Jack Ferguson
通讯作者：
Jack Ferguson