Combined Atomic Force Microscopy and Photoluminescence Imaging to Increase the Yield of Quantum Dot Photonic Devices
Combined Atomic Force Microscopy and Photoluminescence Imaging to Increase the Yield of Quantum Dot Photonic Devices
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结合原子力显微镜和光致发光成像来提高量子点光子器件的产量
DOI：
10.1364/fio.2017.fm2e.1
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Sapienza L
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Sapienza L
结合原子力显微镜和光致发光成像为量子光子器件选择单个 InAs/GaAs 量子点
DOI：
10.48550/arxiv.1612.01920
发表时间：
2016
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
Sapienza L
通讯作者：
Sapienza L
影响因子：
4
作者：
Kojima, T.;Kojima, K.;Noda, S.
通讯作者：
Noda, S.
单量子点的纳米级光学定位，实现明亮、纯净、按需的单光子发射|
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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作者：
L. Sapienza;M. Davanco;A. Badolato;K. Srinivasan
通讯作者：
K. Srinivasan