Correction method for self-absorption effects of fluorescence x-ray absorption near-edge structure on multilayer samples
Correction method for self-absorption effects of fluorescence x-ray absorption near-edge structure on multilayer samples
复制标题
多层样品荧光X射线吸收近边结构自吸收效应的校正方法
DOI：
10.1088/0031-8949/90/1/015804
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
2.9
通讯作者：
Wang Zhan-Shan
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Li Wen-Bin;Yuan Xiao-Feng;Zhu Jing-Tao;Zhu Jie;Wang Zhan-Shan
众所周知，荧光X射线吸收光谱法对于厚的和浓缩的样品遭受自吸收效应。本研究提供了一种简单的校正方法来校正荧光的自吸收效应
It is well known that fluorescence x-ray absorption spectroscopy suffers from the self-absorption effects for thick and concentrated samples. In this study, a simple correction method is provided for correcting the self-absorption effects of fluorescence
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