Novel Magnetic Burn-In for Retention and Magnetic Tolerance Testing of STTRAM
Novel Magnetic Burn-In for Retention and Magnetic Tolerance Testing of STTRAM
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用于 STTRAM 保持力和磁容差测试的新型磁力老化
DOI：
10.1109/tvlsi.2018.2820508
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Ghosh, Swaroop
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Khan, Mohammad Nasim;Iyengar, Anirudh S.;Ghosh, Swaroop
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磁场攻击下的自校正STTRAM
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
Design Automation Conference
影响因子：
--
作者：
Jaedong Jang;Jongsun Park;Swaroop Ghosh;S. Bhunia
通讯作者：
S. Bhunia
STTRAM 保留测试方法
影响因子：
2
作者：
Anirudh Iyengar;Swaroop Ghosh;Srikant Srinivasan
通讯作者：
Srikant Srinivasan
磁场和自旋转移效应存在下磁性纳米粒子的热弛豫率
影响因子：
3.7
作者：
W. Rippard;R. Heindl;M. Pufall;S. Russek;A. Kos
通讯作者：
A. Kos
对商用磁阻随机存取存储器的磁场攻击研究
DOI：
10.1109/isqed.2017.7918309
发表时间：
2017
期刊：
2017 18th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
影响因子：
--
作者：
A. Holst;Jaedong Jang;Swaroop Ghosh
通讯作者：
Swaroop Ghosh
具有空间线圈布置的直流磁场发生器
影响因子：
2.4
作者：
A. Kozlowski;S. Zurek
通讯作者：
S. Zurek