S.Kimura: "Analysis of minute strain fields around A-Swirl defectsin a FZ silicon crystal by means of plane wave X-ray topography using extremely collimated X-rays." J.Cryst.Growth,.
S.Kimura: "Analysis of minute strain fields around A-Swirl defectsin a FZ silicon crystal by means of plane wave X-ray topography using extremely collimated X-rays." J.Cryst.Growth,.
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S.Kimura：“利用极其准直的 X 射线，通过平面波 X 射线形貌分析 FZ 硅晶体中 A 旋涡缺陷周围的微小应变场。”
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期刊：
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通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
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DOI：
10.1016/0022-0248(75)90210-9
发表时间：
1975
期刊：
影响因子：
--
作者：
P. Petroff;A. D. Kock
通讯作者：
A. D. Kock
光子工厂的高度准直光束 X 射线形貌
影响因子：
1.6
作者：
T. Ishikawa
通讯作者：
T. Ishikawa
从等厚条纹可见度测量高度准直X射线的相干长度
DOI：
10.1107/s010876738800234x
发表时间：
1988
期刊：
Acta Crystallographica Section A
影响因子：
--
作者：
T. Ishikawa
通讯作者：
T. Ishikawa
Zur röntgenographischen Bestimmung des Typs einzelner Versetzungen in Einkristallen
DOI：
--
发表时间：
1958
期刊：
影响因子：
--
作者：
U. Bonse
通讯作者：
U. Bonse
DOI：
10.1021/j150447a024
发表时间：
1968
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
Charles Palache;Harry Berman;C. P. Shillaber;W. Zachariasen;Ralph S Bates
通讯作者：
Charles Palache;Harry Berman;C. P. Shillaber;W. Zachariasen;Ralph S Bates