Topography-free sample for thermal spatial response measurement of scanning thermal microscopy

Topography-free sample for thermal spatial response measurement of scanning thermal microscopy
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用于扫描热显微镜热空间响应测量的无形貌样品

DOI:
10.1116/1.4933172
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发表时间:
2015
期刊:
Materials, Processing, Measurement, and Phenomena
影响因子:
--
通讯作者:
Ge Y
Ge Y
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Ge Y

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参考文献

被引文献

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