Semantic Autoencoder for Modeling BEOL and MOL Dielectric Lifetime Distributions
Semantic Autoencoder for Modeling BEOL and MOL Dielectric Lifetime Distributions
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用于 BEOL 和 MOL 介电寿命分布建模的语义自动编码器
DOI：
10.1109/irps48203.2023.10117878
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Rosenbaum, E.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Yan, W.;Wu, E.;Schwing, A.;Rosenbaum, E.
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新的击穿数据生成和分析方法可解决 BEOL 和摩尔电介质 TDDB 工艺开发和技术鉴定挑战
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
IEEE International Reliability Physics Symposium
影响因子：
--
作者：
Fen Chen;C. Graas;M. Shinosky;C. Griffin;R. Dufresne;R. Bolam;C. Christiansen;K. Zhao;S. Narasimha;C. Tian;Choon
通讯作者：
Choon
多声子-电子耦合增强了 MOL 中适用于 7nm/5nm 及以上技术节点的新型间隔电介质的缺陷产生和击穿机制
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
International Electron Devices Meeting
影响因子：
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作者：
E. Wu;R. Southwick;S. Mehta;Baozhen Li;Miaomiao Wang
通讯作者：
Miaomiao Wang
使用 Auto ML 提高黑色素瘤诊断系统的性能
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
--
作者：
Inoue Manabu;Yoshimoto Takeshi;Tanaka Kanta;Koge Junpei;Shiozawa Masayuki;Nishii Tatsuya;Ohta Yasutoshi;Fukuda Tetsuya;Satow Tetsu;Kataoka Hiroharu;Yamagami Hiroshi;Ihara Masafumi;Koga Masatoshi;Mlynash Michael;Albers Gregory W.;Toyoda Kazunori;正木達也・北畠直人・飛塚丈輝・花崎和寿・張 維倫・永岡 隆
通讯作者：
正木達也・北畠直人・飛塚丈輝・花崎和寿・張 維倫・永岡 隆
MOL TDDB 建模应对可变性的新方法
DOI：
10.1109/irps.2018.8353555
发表时间：
2018
期刊：
2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
影响因子：
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作者：
P. Roussel;A. Chasin;S. Demuynck;N. Horiguchi;D. Linten;A. Mocuta
通讯作者：
A. Mocuta
铜线拓扑对 45nm 以下技术节点中 SiOCH 低 k 可靠性的影响。
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
IEEE International Reliability Physics Symposium
影响因子：
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作者：
M. Vilmay;D. Roy;C. Monget;F. Volpi;J. Chaix
通讯作者：
J. Chaix