First Observation of InGaAs Quantum Dots in GaP by Sperical Aberration-corrected HRTEM in comparison with ADF-STEM and Conventional HRTEM
First Observation of InGaAs Quantum Dots in GaP by Sperical Aberration-corrected HRTEM in comparison with ADF-STEM and Conventional HRTEM
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首次通过球差校正 HRTEM 观察 GaP 中的 InGaAs 量子点，并与 ADF-STEM 和传统 HRTEM 进行比较
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Takeda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N.Tanaka;J.Yamasaki;S.Fuchi;Y.Takeda
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高分辨率透射电子显微镜中“椭圆”的近似多束形式
影响因子：
2.2
作者：
J. Hu;N. Tanaka
通讯作者：
N. Tanaka
首次通过球差校正高分辨率透射电子显微镜观察 SiO2/Si(100) 界面。
DOI：
10.1093/jmicro/52.1.69
发表时间：
2003
期刊：
Journal of electron microscopy
影响因子：
--
作者：
N. Tanaka;J. Yamasaki;K. Usuda;N. Ikarashi
通讯作者：
N. Ikarashi
GaP 盖层生长对有机金属气相外延在 GaP (001) 上生长的自组装 InAs 岛的影响
影响因子：
1.5
作者：
S. Fuchi;Y. Nonogaki;Hiromitsu Moriya;Y. Fujiwara;Y. Takeda
通讯作者：
Y. Takeda
通过有机金属气相外延在 GaP (001) 上生长纳米级 InAs 岛
影响因子：
6.7
作者：
Y. Nonogaki;T. Iguchi;S. Fuchi;Y. Fujiwara;Y. Takeda
通讯作者：
Y. Takeda
DOI：
10.1107/s0567739482001594
发表时间：
1982-01-01
期刊：
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A
影响因子：
--
作者：
ISHIZUKA, K
通讯作者：
ISHIZUKA, K