Fatigue and Fracture Criterion in Nano-Components
Fatigue and Fracture Criterion in Nano-Components
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纳米元件的疲劳与断裂准则
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Takashi Sumigawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Fukushima;Y. Ohara;J. Bea;M. Murugesan;K.-W. Lee;T. Tanaka;and M. Koyanagi;Takashi Sumigawa
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铜亚微米点与二氧化硅基底之间界面强度的直接测量
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
JSME International Journal, Ser. A Vol. 47(with peer review)
影响因子：
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作者：
Hiroyuki Hirakata;Takayuki Kitamura and Yoshitake Yamamoto
通讯作者：
Takayuki Kitamura and Yoshitake Yamamoto
影响因子：
9.4
作者：
H. Hirakata;M. Kitazawa;T. Kitamura
通讯作者：
H. Hirakata;M. Kitazawa;T. Kitamura
加载频率对亚微米厚膜与基体之间疲劳裂纹扩展的影响
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
JSME International Journal 49・3
影响因子：
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作者：
Nindi;S. J.;Do Van Truong ほか
通讯作者：
Do Van Truong ほか
研究硅基底上金属薄膜应力应变关系的微束弯曲方法
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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作者：
J. Florando;W. Nix
通讯作者：
W. Nix
基板上压电薄膜界面自由边缘分层的实验和理论研究
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
International Journal of Solids and Structures 42
影响因子：
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作者：
F.Shang;T.Kitamura;Hiroyuki Hirakata;Isaku Kanno;Hidetoshi Kotera;K Terada
通讯作者：
K Terada