Thickness-and Deposition Temperature-dependent Morphological Change in Electric Growth of Ultra-thin AgFilms on Si(111)Substrates
Thickness-and Deposition Temperature-dependent Morphological Change in Electric Growth of Ultra-thin AgFilms on Si(111)Substrates
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Si(111) 基板上超薄银薄膜电生长的厚度和沉积温度依赖性形态变化
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Miyazaki & H. Hirayama
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Shigekazu Nagai;Yuji Fujiwara;Koichi Hata;M. Miyazaki & H. Hirayama
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1×1缺陷对Ag/Si(111)7×7界面肖特基势垒高度的影响
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H. Hirayama;T. Yamaguchi;H. Ikezawa;K. Tanaka
通讯作者：
K. Tanaka
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DOI：
10.1103/physrevb.47.12705
发表时间：
1993
期刊：
Physical review. B, Condensed matter
影响因子：
--
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通讯作者：
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DOI：
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发表时间：
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期刊：
Physical Review B 72
影响因子：
--
作者：
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通讯作者：
H.Hirayama